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xulm菲希尔镀层测厚仪的测量精确度会受哪些因素影响

发布时间:2018-09-25   点击次数:109次
   xulm菲希尔镀层测厚仪的测量精确度会受哪些因素影响
  xulm菲希尔镀层测厚仪检测电镀金属镀层厚度,对镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀铑、镀钯、镀银等镀层厚度可以达到精确分析,一次性可以分析5层,由于可测量的元素范围从铝至铀,xulm菲希尔镀层测厚仪的应用范围从工业应用伸展到科学应用。xulm菲希尔镀层测厚仪可应用于治金学、地质学、鉴证学或自然科学等,在工业方面,广泛用于五金电镀、电子半导体、PCB线路、首饰珠宝、卫浴、汽配的成份分析和镀层测量方面。
  xulm菲希尔镀层测厚仪采用X射线荧光的工作原理是,X射线管产生初级射线照射在受检物质时,会激发物质放射X-射线萤光辐射,特定的元素有特定的辐射信号,接收器便会记录这些能量光谱。不需要先对样品进行处理便能测量,样品可直接放入测量室进行测量。
  随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。xulm菲希尔镀层测厚仪采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。
  介绍完xulm菲希尔镀层测厚仪的测量方法后,再来看看影响xulm菲希尔镀层测厚仪测量的因素是什么呢?
  1.基体金属厚度
  每一种xulm菲希尔镀层测厚仪都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。
  2.基体金属磁性质
  磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对xulm菲希尔镀层测厚仪进行校准;xulm菲希尔镀层测厚仪亦可用待涂覆试件进行校准。
  3.基体金属电性质
  基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对xulm菲希尔镀层测厚仪进行校准。
  4.边缘效应
  xulm菲希尔镀层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
  5.曲率
  试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
  所以,xulm菲希尔镀层测厚仪的影响因素主要有基体金属厚度,基体金属磁性质,基体金属电性质,边缘效应和曲率这五个因素。

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