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EDX3000BX射线荧光光谱仪的结构系统分析

发布时间:2017-12-20   点击次数:439次
   EDX3000BX射线荧光光谱仪的结构系统分析
  EDX3000BX射线荧光光谱仪是一种常用的光谱技术,既可用于材料的组成成分分析,又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。EDX3000BX射线荧光光谱仪能非常好地筛选出原材料、部件和成品的有害元素,使消费品和配件的生产商、进口商和零售商从中获益。EDX3000BX射线荧光光谱仪提供无损分析,也就是说被检测物品可以以后继续使用或从新进入供应链。EDX3000BX射线荧光光谱仪能很好地检测塑料、产品包装、金属或混合原料中的氯(Cl)、镉(Cd)、铅(Pb)、汞(Hg)、铬(Cr)、溴(Br)和其它受限制的有毒元素。EDX3000BX射线荧光光谱仪检测只需要zui简单的培训,基本不需要样品制备,完全可以携带至样品处检测,这样就无需挪动材料。
  机械系统:试样装载系统、光学系统、测角测角仪系统
  主要是晶体分光器,通过晶体衍射现象把不同波长的X射线分开。根据布拉格衍射定律2dsinθ=nλ,改变θ角,EDX3000BX射线荧光光谱仪可以观测到不同波长的X射线。测角仪系统1θ及2θ用直流马达直接定位单独控制。
  谱仪支持系统:真空系统、充氦系统、压缩空气系、P10气系统、谱仪温控系统、光管内部循环冷却水系统。
  真空系统(真空故障判定)、压缩空气(空压机输出压力为4-5bar,报警可适当调整)、探测器气体系统(P10气系统:EDX3000BX射线荧光光谱仪本身带有气密度稳定系统。压力0.75bar,流量1L/h,气体流量与腔内温度有关)、温控系统(机内恒温:30度左右)、内循环水系统(用于冷却X射线管的阳极)。
  检测通道系统:
  流量正比计数器(轻元素)和闪烁计数器(重元素),半导体检测器等。EDX3000BX射线荧光光谱仪不同的晶体探测器组合,探测器高压单独设定。

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